ALTECS
  【JISSO】TEG ソリューションプロバイダー
 
株式会社アルテクス 03-3361-2642
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TEGチップをベースに実装技術の未来を創造する
 
TEG-Line Up Kit-Line Up
  TEGチップはこんな開発用途にご利用いただけます
 
  • 装置の開発
    ex)ボンディング評価
    ⇒JTEG Phase0
    ⇒JTEG Phase3
    ⇒JTEG Phase4
    ⇒JTEG Phase8
    ⇒JTEG Phase11
  • 検査装置の開発
    ex)プローブカード評価
    ⇒JTEG Phase3
    ⇒JTEG Phase2E20
    ⇒JTEG Phase2E175
    ⇒JTEG Phase2E150
    ⇒JTEG Phase11
  • 実装工法開発 
    ex)FCボンダー評価(Au-Au)
    ⇒JTEG Phase0
    ⇒JTEG Phase1E15
    ⇒JTEG Phase1E28
    ⇒JTEG Phase6
  • パッケージ開発
    ex)SIP、BGA、CSPなどの
    積層、基板開発評価
    ⇒JTEG Phase0
    ⇒JTEG Phase8
    ⇒etc
 
 
フリップチップ工法開発(半田バンプ)
TEGチップに関するお問合せはこちらから
 
フリップチップ工法開発(金バンプ)メッキ、スタッド
TEGチップに関するお問合せはこちらから
 
  New 新規TEG開発 販売開始!
弊社では、独自のデザインTEGを開発・販売を始めました。
業界でも先端の10mm□、150μmピッチを採用しフリップチップ実装開発用、高密度実装開発やアンダーフィルなどの材料開発、基板開発等でご利用けます。
フルマトリクスタイプで、半田バンプ対応(鉛フリー、共晶、高融点の組成にも対応)しております。
また、このTEGチップを御評価頂く場合の基板も併せて提供可能です。
  新規TEG
 
※標準品はウェハ1枚分からの販売
※Kit基板は50枚分から販売
※ウェハの裏面研削(鏡面研磨)、個片化
 トレイ詰めもオプション対応
 
  ソリューション サービス
お客様の多様なニーズに対応する為、お客様の各種部品材料を基にTEGウェハを利用した試作・組立て・実装・信頼性評価・解析など半導体後工程全般の要素開発としてご利用頂けます。
 
小ロット
PKG試作
信頼性試験 例 分析・解析
◆PKG試作
(BGA,CSP)
◆FC実装試作
(COG,COF)
◆吸湿リフロー
◆湿度サイクル
◆高温高湿バイアス
◆高温高湿放置
◆etc
◆SAT
◆X線
◆SEW/TEW
◆断面研磨
◆etc
※機密保持契約を締結の上対応させて頂く場合が御座います
 
     
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